Chroma ATE présente une technologie de test avancée pour propulser la révolution de l'IA au SEMICON Taiwan 2023

TAOYUAN, 30 août 2023 /PRNewswire/ — Chroma ATE Inc., l'un des principaux fournisseurs d'équipements de test automatisés, participe au SEMICON Taiwan 2023. La société présentera une série de solutions de test innovantes axées sur l'intelligence artificielle (IA). , le calcul haute performance (HPC), l'automobile et les applications AIoT, visant à répondre aux besoins en constante évolution des tests de semi-conducteurs.

Solutions avancées de tests SoC/analogiques

Le système de test SoC/analogique Chroma 3650-S2 est une plate-forme de test de circuits intégrés de puissance hautes performances qui répond aux besoins des circuits intégrés de puissance à commande numérique haute tension, courant élevé et complexes d'aujourd'hui. Il est équipé de jusqu'à 768 broches d'E/S numériques et analogiques avec une capacité d'alimentation allant jusqu'à 3 000 V ou 320 A, avec un débit de données de 200 Mbps et une précision de placement des bords (EPA) de 300 ps. Il s'agit d'un choix idéal pour tester les circuits intégrés du système de gestion de batterie au lithium (BMS), les circuits intégrés de gestion de l'alimentation (PMIC) et les circuits intégrés d'alimentation liés au GaN et au SiC.

Le système de test SoC avancé Chroma 3680 répond efficacement aux besoins de test des puces de pointe utilisées dans les technologies de l'IA et de l'automobile. Le système fournit jusqu'à 2 048 broches d'E/S avec des débits de données allant jusqu'à 1 Gbit/s, prend en charge jusqu'à 16 Go de mémoire vectorielle SCAN et offre une variété de modules de test parmi lesquels les utilisateurs peuvent choisir. Il a la capacité d'effectuer simultanément des tests de logique numérique, d'unité de test paramétrique, d'alimentation, de mémoire, de signal mixte et de communication sans fil RF.

Solutions de test de puces RF

Les systèmes de test automatisés Chroma 3680/3380/3300, intégrés au testeur RFIC modèle 35806, offrent une solution complète de test de puces radiofréquence (RF) qui a déjà été validée pour la production en série par nos clients. Cette solution améliorée prend en charge une gamme d'applications, notamment Bluetooth, Wi-Fi, NB-IoT, ainsi que les normes de communication GPS/BeiDou et Tuner & PA IoT. Il est notamment doté d'un module VSG/VSA à bande passante ultra-haute fréquence avec une couverture allant de 300K jusqu'à 6GHz, ce qui le rend adapté à un large spectre de normes de communication sans fil émergentes.

Solution de test SLT Tri-Temp

Chroma 31000R-L est un système de test Tri-Temp conçu pour répondre aux exigences de tests thermiques les plus exigeantes. Avec des capacités de contrôle de température stables allant de -40 °C à +150 °C et une capacité de refroidissement DUT (Device Under Test) allant jusqu'à 1 800 W, ce système est un choix idéal comme solution de test IC Tri-Temp haut de gamme.

Le Chroma 31000R-L peut être associé de manière transparente aux modèles Chroma tels que 3210, 3110, 3260 et 3200, fournissant une solution de test Tri-Temp SLT (System Level Test) complète adaptée aux environnements de laboratoire et de fabrication. La solution de test Tri-Temp de Chroma s'adresse à un large éventail d'applications de circuits intégrés avancées et haut de gamme, notamment l'automobile, l'IA et les centres de données, les GPU, les APU, le HPC, l'aérospatiale et la défense. Conçu pour garantir que les circuits intégrés fonctionnent parfaitement dans des environnements difficiles, il s'agit du choix optimal pour les tests de fiabilité des produits.

Gardien de la qualité de l'isolation pour les dispositifs à semi-conducteurs de puissance

Les dispositifs à semi-conducteurs de puissance (par exemple, IGBT, SiC-MOSFET) sont utilisés dans divers domaines qui ont tendance à utiliser une puissance élevée/un courant important pour les circuits de conversion/commande de puissance, et les isolateurs (par exemple, optocoupleurs, isolateurs numériques) sont utilisés dans des environnements où la tension est élevée. La différence entre deux côtés (c'est-à-dire le côté primaire et le côté secondaire) doit être isolée. Étant donné que des différences de tension ou des différences de potentiel plus élevées apparaissent entre ces composants, il est très important de garantir que ces composants peuvent maintenir une bonne isolation de tension dans des conditions de fonctionnement normales et ne présentent pas de décharge partielle (PD) continue pouvant entraîner une dégradation de l'isolation. Le testeur de décharge partielle Chroma série 19501 est conforme aux exigences de mesure de DP de la norme CEI 60270-1, et les méthodes de test spécifiées dans la réglementation ont été conçues dans l'instrument. Il peut fournir un test AC Hipot (max. 10kVac) et une mesure de décharge partielle (max. 6000pC), ce qui peut garantir efficacement la qualité et la fiabilité du fonctionnement à long terme des dispositifs et isolateurs à semi-conducteurs de puissance.